Ebook: Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique: Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil

Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer.

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Content:
Front Matter....Pages II-XIX
Er?ffnungs-Ansprache....Pages 1-1
Opening remarks....Pages 2-3
Festvortrag....Pages 4-8
Kathoden....Pages 9-44
Linsen und Ablenksysteme....Pages 45-74
Objekteinrichtungen....Pages 74-103
Bildaufzeichnungsverfahren....Pages 103-116
Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze)....Pages 116-145
Stereoaufnahme....Pages 146-154
Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung....Pages 154-165
Durchstrahlungsmikroskope....Pages 165-194
Reflexions- und Emissionsmikroskopie....Pages 195-230
Interferenzmikroskopie und Interferometrie....Pages 230-239
R?ntgen-Projektionsmikroskopie....Pages 239-263
Elektronen- und R?ntgen-Rastermikroskopie....Pages 263-276
Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen....Pages 276-280
Streuung am Objekt und Bildkontrast....Pages 281-319
Abbildung von Kristallgitter-Perioden....Pages 320-352
Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moir?s....Pages 353-374
Tr?gerfolien....Pages 375-381
D?nne Objektschichten....Pages 381-395
Oberfl?chen....Pages 396-422
Aufdampf- und Abdruckverfahren....Pages 422-446
Kristallgitter-Strukturen....Pages 447-461
Kristallwachstum....Pages 462-487
Kristalloberfl?chen....Pages 487-506
Kondensierte Schichten....Pages 506-526
Kristallbau-Fehler und Versetzungen....Pages 527-574
Umwandlungs- und Ausscheidungsvorg?nge in Metallen....Pages 574-686
Nat?rliche und k?nstliche technologische Fasern....Pages 686-728
Verschiedene Produkte der chemischen Technik....Pages 728-754
Staube und Rauche....Pages 754-768
Spuren-Nachweis....Pages 769-779
Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberfl?chen....Pages 780-801
Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden....Pages 801-819
Feldionen-Mikroskopie....Pages 820-848
Back Matter....Pages 848-860

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Content:
Front Matter....Pages II-XIX
Er?ffnungs-Ansprache....Pages 1-1
Opening remarks....Pages 2-3
Festvortrag....Pages 4-8
Kathoden....Pages 9-44
Linsen und Ablenksysteme....Pages 45-74
Objekteinrichtungen....Pages 74-103
Bildaufzeichnungsverfahren....Pages 103-116
Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze)....Pages 116-145
Stereoaufnahme....Pages 146-154
Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung....Pages 154-165
Durchstrahlungsmikroskope....Pages 165-194
Reflexions- und Emissionsmikroskopie....Pages 195-230
Interferenzmikroskopie und Interferometrie....Pages 230-239
R?ntgen-Projektionsmikroskopie....Pages 239-263
Elektronen- und R?ntgen-Rastermikroskopie....Pages 263-276
Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen....Pages 276-280
Streuung am Objekt und Bildkontrast....Pages 281-319
Abbildung von Kristallgitter-Perioden....Pages 320-352
Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moir?s....Pages 353-374
Tr?gerfolien....Pages 375-381
D?nne Objektschichten....Pages 381-395
Oberfl?chen....Pages 396-422
Aufdampf- und Abdruckverfahren....Pages 422-446
Kristallgitter-Strukturen....Pages 447-461
Kristallwachstum....Pages 462-487
Kristalloberfl?chen....Pages 487-506
Kondensierte Schichten....Pages 506-526
Kristallbau-Fehler und Versetzungen....Pages 527-574
Umwandlungs- und Ausscheidungsvorg?nge in Metallen....Pages 574-686
Nat?rliche und k?nstliche technologische Fasern....Pages 686-728
Verschiedene Produkte der chemischen Technik....Pages 728-754
Staube und Rauche....Pages 754-768
Spuren-Nachweis....Pages 769-779
Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberfl?chen....Pages 780-801
Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden....Pages 801-819
Feldionen-Mikroskopie....Pages 820-848
Back Matter....Pages 848-860
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