Ebook: Основы технологии кремниевых ИС: Окисление, диффузия, эпитаксия
Author: Бургер Р. Донован Р. (ред.)
- Genre: Техника // Электроника: СБИС
- Tags: Приборостроение, Полупроводниковые приборы, Интегральные схемы
- Year: 1969
- Publisher: Мир
- Language: Русский
- djvu
Книга посвящена процессам окисления, диффузии и эпитаксии кремния. По существу изложенный материал охватывает основные процессы планарной технологии - наиболее универсальной современной технологии, позволяющей производить любые полупроводниковые приборы от простейшего диода до сложнейших интегральных субсистем. Использованы малоизвестные или не публиковавшиеся ранее данные и сведения из отчетов фирм и докладов на конференциях. Приведено большое количество графиков и поясняющих схем. В первой части книги описаны свойства силикатных стекол, методы получения окисных пленок на кремнии, электрические свойства пленок окиси па поверхности кремния и МОП-структур и методы их измерения, использование кремниевых окисных пленок в интегральных твердых схемах. Во второй части изложена теория диффузии, приведены экспериментальные данные о диффузии в монокристаллах кремния, рассмотрены методы проведения диффузии. Третья часть посвящена вопросам эпитаксии, технике и методике эпитаксиального наращивания и обсуждению получаемых результатов. Книга полезна разработчикам и технологам полупроводниковых приборов, физикам, физико-химикам и химикам, изучающим явления в полупроводниковых устройствах, а также специалистам, применяющим интегральные схемы. Ее можно рекомендовать в качестве учебного пособия студентам вузов, изучающим физику и технологию полупроводников.
Download the book Основы технологии кремниевых ИС: Окисление, диффузия, эпитаксия for free or read online
Continue reading on any device:
Last viewed books
Related books
{related-news}
Comments (0)