Ebook: Полевая ионная микроскопия

М.: «Наука», 1980 г. , 220 стр.
Монография отражает новейшие достижения полевой ионной (автоионной) микроскопии - единственной методики, обеспечивающей прямое наблюдение атомов поверхности твердого тела. Впервые подробно описан атомный зонд — прибор, позволяющий определять химическую природу и пространственное положение любого из атомов образца. Рассмотрены явления полевой ионизации, полевого испарения, лежащие в основе работы полевого ионного микроскопа и атомного зонда. Обсуждены научные приложения полевой ионной микроскопии и атомного зонда. Книга написана ведущими в мире специалистами по полевой ионной микроскопии:
основателем этой методики профессором Э. Мюллером и профессором Т. Цонгом.
Краткое содержание:
Новые приборы и методики: усиление яркости изображения, атомный зонд.
Полевая ионизация и процесс изображения: основной физический механизм, теория полевой ионизации, адсорбция благородных газов, энергетическое распределение.
Полевое испарение: основной механизм, модель сил изображения, скорость испарения.
Некоторые приложения: поверхностная диффузия, атомная реконструкция поверхности.
Дополнение.